화학공학소재연구정보센터
학회 한국재료학회
학술대회 2011년 가을 (10/27 ~ 10/29, 신라대학교)
권호 17권 2호
발표분야 E. Structural Materials and Processing Technology(구조재료 및 공정기술)
제목 X-선 광 밸브 검출기 구현을 위한 차폐체 유무에 따른 광도전체의 전기적 특성연구  
초록 X-선 광 밸브 (X-ray light valve)는 기존 X-선 영상 기술의 영상왜곡, 큰 픽셀 사이즈, 낮은 공간 분해능 등의 문제점을 해결하고, 의료분야에서 고효율의 X-선 영상 획득을 위한 연구가 다방면에서 진행되고 있다.  LC(Liquid crystal) cell을 이용한 X-선 광 밸브는 X-선 조사 시 광도전체에서 생성된 전자, 정공 쌍의 양에 따라 LC에 있는 LC 분자들이 다르게 배열하여, 빛의 투과정도에 따라 영상을 획득한다. 이 검출기를 구현하기 위해서는 광도전체와 LC layer 사이에 있는 Middle Glass에서의 전하의 투과도가 중요하다.  
 본 연구에서는 광도전체에서 발생된 전하들이 Middle Glass 투과 여부를 확인하기 위하여, 차폐체를 통한 X-선 조사 후의 광도전체의 전하발생량에 대한 전기적 특성변화를 측정하였다. 또한 Middle Glass의 두께에 변화를 주어 투과된 전하의 정도를 정량적으로 평가하였다. 광도전체로는 요오드화수은(HgI2)을 사용하여 대면적 제작이 용이한 PIB(Particle-In-Binder)방식으로 증착 하였다. 광도전체 필름 제작 후 에서 일정한 부분은 납으로 차폐하여 X-선 조사 후 차폐되지 않은 부분과의 전기적 신호차이를 측정하였다. 측정 결과, 납의 차폐정도에 따라 광도전체에서의 전하 발생량의 차이에 의한 Middle Glass를 통과한 전기적 신호 크기의 차이를 확인할 수 있었다. 본 연구를 통하여 광도전체에서 발생한 전하는 Middle Glass 통과 후 LC cell의 LC 분자에 전기적 영향을 줄 수 있을 것으로 판단하여, 추후 새로운  X-선 광 밸브 검출기 구조의 실용 가능성을 검증하였다.
저자 이지윤1, 전승표1, 이윤진1, 권준환1, 석대우2, 정숙희3, 남상희1
소속 1인제대, 2김해의생명센터, 3인피니트 헬스케어
키워드 X-선 광 밸브; LC; Middle Glass; 광도전체
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