TY - JOUR PY - 2005 J2 - Thin Solid Films SN - 0040-6090 T2 - Thin Solid Films VL - 486 IS - 1-2 DO - 10.1016/j.tsf.2004.11.220 TI - Phase coexistence in the metal-insulator transition of a VO2 thin film UR - https://www.cheric.org/research/tech/periodicals/view.php?seq=511454 KW - vanadium oxide KW - optical spectroscopy KW - scanning tunneling microscopy AU - Chang YJ AU - Koo CH AU - Yang JS AU - Kim YS AU - Kim DH AU - Lee JS AU - Noh TW AU - Kim HT AU - Chae BG SP - 46 EP - 49 LA - Multi-Language ER -