화학공학소재연구정보센터
Reading-Writing-Measuring Tool로서의 Atomic Force Microscopy의 최신 연구 동향
연구책임자 김영훈 김영훈
연락처
강의개요 나노기술의 발달과 함께 제조된 나노입자 또는 나노표면의 정확한 해석이 중요시 되고 있다. 본 개인IP에서는 읽기-쓰기-측정(reading-writing-measuring) 장치로 활용가능한 Atomic force microscopy를 중심으로 최신 국내외 연구동향에 관한 정보를 제공하고자 한다. 이는 AFM 장비에 대해 정확한 이해를 바탕으로 그 활용범위를 보다 넓힐 수 있는 기회를 제공한다. 또한 AFM을 이용한 나노패터닝과 액상/승온 조건에서 장비 운용에 관한 최신 동향도 살피고자 한다.
연구동향
  • Measuring tool로서의 AFM (2)DOWNLOAD
  • Measuring tool로서의 AFM (1)DOWNLOAD
  • Writing tool로서의 AFM (2)DOWNLOAD
  • Writing tool로서의 AFM (1)DOWNLOAD
  • Reading tool로서의 AFM (2)DOWNLOAD
  • Reading tool로서의 AFM (1)DOWNLOAD
  • Atomic Force Microscopy(AFM) 소개 및 작동 원리DOWNLOAD
  • Scanning probe microscopy(SPM) 개론DOWNLOAD